Test de base pour la conception d’émetteurs et de récepteurs LTE
LTE nécessite déjà des changements fondamentaux dans la base et le combiné et le projet de recherche en raison des débits de données plus élevés, il existe une bande passante de signal importante et améliore l’intégration et la miniaturisation dans les téléphones mobiles, par exemple :
- Besoin de gérer 6 bandes passantes de canal différentes, de 1,4 à 20 MHz, ainsi que les modes duplex par répartition en fréquence (FDD) et duplex par répartition dans le temps (TDD).
- Systèmes de transmission flexibles et combinaison presque infinie d’activités dans lesquelles la structure du canal physique a un impact significatif sur les performances du RF.
- Le combiné DIgRF multi-gigabit compatible Elements v4, qui supprime la capacité du goulot d’étranglement de communication entre les puces et les bandes de radiofréquences (RFIC), nécessite potentiellement une communication inter-domaines (DIGITAL IN, RF OUT). Le test de source numérique doit simuler à la fois le trafic de données et la pile de protocoles fermée au sein de l’interface numérique qui contrôle les performances du RFIC.
- Le numéro de série de l’interface DigRF numérique haut débit doit être traité comme un support de transmission, où le désordre peut aggraver la qualité du taux d’erreur binaire (BER) analogique et la dégradation. Il convient donc de faire attention en connectant l’équipement de test pour éviter de perturber le signal de flux.
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- Le transfert d’informations entre les combinés utilise des circuits RF et doit respecter des contraintes de temps strictes. Par conséquent, il est important que les conditions du test mesurent l’heure exacte à laquelle chaque trame est envoyée d’une puce à une autre et fournissent une détection en temps réel des violations de synchronisation.
À cela s’ajoutent des défis particuliers liés à la nécessité de prendre en charge diverses techniques, notamment la diversité d’antennes, le MIMO et le contrôle des faisceaux.