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Prueba básica para el diseño de transmisores y receptores LTE

Prueba básica para el diseño de transmisores y receptores LTE

LTE ya requiere cambios fundamentales en la base y en el terminal y el proyecto de investigación debido a mayores velocidades de datos, hay un importante ancho de banda de señal y mejora de la integración y miniaturización en los teléfonos móviles, por ejemplo:

  • Necesita manejar 6 canales diferentes de ancho de banda de 1,4 a 20 MHz, y modos dúplex por división de frecuencia (FDD) y dúplex por división de tiempo (TDD).
  • Sistemas de transmisión flexibles y combinación casi infinita de actividades en las que la estructura del canal físico tiene un impacto significativo en el rendimiento de la RF.
  • El teléfono DIgRF multigigabit compatible con Elements v4, que elimina la capacidad del cuello de botella de comunicación entre chips y bandas de radiofrecuencia (RFIC), requiere potencialmente comunicación entre dominios (ENTRADA DIGITAL, SALIDA RF). La prueba de fuente digital debe simular tanto el tráfico de datos como la pila de protocolos cerrados dentro de la interfaz digital que controla el rendimiento RFIC.
  • El número de serie de la interfaz DigRF digital de alta velocidad debe tratarse como un medio de transmisión, donde el desorden puede empeorar la calidad del analógico y la degradación de la tasa de error de bits (BER) y tenga cuidado al conectar el equipo de prueba para evitar interrumpir la señal de flujo.< /li>
  • La transferencia de información entre circuitos de RF de banda de teléfonos y debe cumplir con estrictas limitaciones de tiempo. Por lo tanto, es importante que las condiciones de la prueba midan el momento exacto en que se envía cada cuadro de un chip a otro y proporcionen detección en tiempo real de violaciones de tiempo.

A estos se suman desafíos especiales debido a la necesidad de admitir una variedad de técnicas que incluyen diversidad de antenas, MIMO y control de haz.

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