Podstawowy test konstrukcji nadajnika i odbiornika LTE
LTE wymaga już fundamentalnych zmian w bazie i słuchawce oraz w projekcie badawczym ze względu na wyższe prędkości transmisji danych, istotną szerokość pasma sygnału oraz poprawę integracji i miniaturyzacji w telefonach komórkowych, na przykład:
- Należy obsłużyć 6 różnych szerokości pasma kanału od 1,4 do 20 MHz oraz oba tryby dupleksu z podziałem częstotliwości (FDD) i dupleksu z podziałem czasu (TDD).
- Elastyczne systemy transmisji i niemal nieskończona kombinacja działań, w których struktura kanału fizycznego ma znaczący wpływ na wydajność RF.
- Wielogigabitowy zestaw słuchawkowy DIgRF zgodny z Elements v4, który eliminuje wąskie gardło komunikacyjne między chipami a pasmami częstotliwości radiowych (RFIC), wymaga potencjalnej komunikacji międzydomenowej (DIGITAL IN, RF OUT). Test źródła cyfrowego musi symulować zarówno ruch danych, jak i zamknięty stos protokołów w interfejsie cyfrowym kontrolującym wydajność RFIC.
- Numer seryjny szybkiego cyfrowego interfejsu DigRF należy traktować jako medium transmisyjne, gdzie zaburzenie może pogorszyć jakość sygnału analogowego i degradację współczynnika błędów bitowych (BER), dlatego należy zachować ostrożność podłączając sprzęt testowy, aby nie zakłócać przepływu sygnału.
- Przesyłanie informacji pomiędzy obwodami RF pasma telefonów komórkowych musi być zgodne ze ścisłymi ograniczeniami czasowymi. Dlatego ważne jest, aby warunki testu mierzyły dokładny czas przesyłania każdej ramki z jednego chipa do drugiego i zapewniały wykrywanie w czasie rzeczywistym naruszeń taktowania.
Do tego dochodzą szczególne wyzwania wynikające z konieczności obsługi różnorodnych technik, w tym różnorodności anten, MIMO i sterowania wiązką.