Test di base per la progettazione di trasmettitori e ricevitori LTE
LTE richiede già cambiamenti fondamentali nella base e nel ricevitore e un progetto di ricerca a causa di velocità di trasmissione dati più elevate, un’importante larghezza di banda del segnale e una maggiore integrazione e miniaturizzazione nei telefoni cellulari, ad esempio:
- È necessario gestire 6 diverse larghezze di banda del canale da 1,4 a 20 MHz ed entrambe le modalità duplex a divisione di frequenza (FDD) e duplex a divisione di tempo (TDD).
- Sistemi di trasmissione flessibili e combinazione pressoché infinita di attività in cui la struttura del canale fisico ha un impatto significativo sulle prestazioni della RF.
- Elements v4, che elimina la possibilità di creare colli di bottiglia nella comunicazione tra chip e bande di radiofrequenza (RFIC), richiede potenzialmente una comunicazione tra domini (DIGITAL IN, RF OUT). Il test della sorgente digitale deve simulare sia il traffico dati che lo stack di protocolli chiusi all’interno dell’interfaccia digitale che controlla le prestazioni RFIC.
- Il numero di serie dell’interfaccia digitale DigRF ad alta velocità deve essere trattato come un mezzo di trasmissione, in cui il disturbo può peggiorare la qualità dell’analogico e il degrado del tasso di errore del bit (BER) e fare attenzione a collegare l’apparecchiatura di test per evitare di interrompere il segnale di flusso.
- Il trasferimento delle informazioni tra i circuiti RF della banda dei ricevitori deve rispettare rigorosi vincoli temporali. Pertanto, è importante che le condizioni del test misurino l’ora esatta in cui ciascun frame viene inviato da un chip all’altro e forniscano il rilevamento in tempo reale delle violazioni della temporizzazione.
Il telefono DIgRF multi-gigabit compatibile con
A queste si aggiungono sfide particolari dovute alla necessità di supportare una varietà di tecniche tra cui la diversità dell’antenna, MIMO e il controllo del raggio.