Basistest für das Design von LTE-Sendern und -Empfängern

Grundlegender Test für LTE-Sender- und Empfängerdesign

LTE erfordert bereits grundlegende Änderungen an der Basis und am Mobilteil sowie an Forschungsprojekten aufgrund höherer Datenraten, einer wichtigen Signalbandbreite und einer verbesserten Integration und Miniaturisierung in Mobiltelefonen, zum Beispiel:

  • Es müssen 6 verschiedene Kanalbandbreiten von 1,4 bis 20 MHz sowie die Modi Frequenzduplex (FDD) und Zeitduplex (TDD) verwaltet werden.
  • Flexible Übertragungssysteme und nahezu unbegrenzte Kombination von Aktivitäten, bei denen die Struktur des physischen Kanals einen erheblichen Einfluss auf die Leistung der RF hat.
  • Elements v4-kompatibles Multi-Gigabit-DIgRF-Mobilteil, das den Kommunikationsengpass zwischen Chips und Radiofrequenzbändern (RFICs) beseitigt und potenziell domänenübergreifende Kommunikation (DIGITAL IN, RF OUT) erfordert. Der digitale Quellentest muss sowohl den Datenverkehr als auch den geschlossenen Protokollstapel innerhalb der digitalen Schnittstelle simulieren, die die RFIC-Leistung steuert.
  • Die Seriennummer der digitalen Hochgeschwindigkeits-DigRF-Schnittstelle sollte als Übertragungsmedium behandelt werden, bei dem die Störung die Qualität des Analogs verschlechtern und die Bitfehlerrate (BER) verschlechtern kann. Beim Anschluss von Testgeräten ist Vorsicht geboten, um eine Unterbrechung des Flusssignals zu vermeiden.
  • Die Übertragung von Informationen zwischen Mobiltelefonen erfolgt über HF-Schaltkreise und muss strenge Zeitvorgaben einhalten. Daher ist es wichtig, dass die Testbedingungen die genaue Zeit messen, zu der jeder Frame von einem Chip zum anderen gesendet wird, und eine Echtzeiterkennung von Timing-Verstößen ermöglichen.

Hinzu kommen besondere Herausforderungen durch die Notwendigkeit, verschiedene Techniken wie Antennendiversität, MIMO und Strahlsteuerung zu unterstützen.

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